Instrumentación para medidas de movilidad electrónica y concentración de portadores en muestras de semiconductores, mediante el método de van der Pauw
DOI:
https://doi.org/10.33448/rsd-v10i6.15229Palabras clave:
Método de Van der PauwResumen
En este trabajo presentamos los resultados de la construcción de un equipo de bajo costo para medidas Hall, utilizando la técnica de van der Pauw. Para ello, se desarrolló un sistema compuesto por una placa electrónica controlada por una placa DAQ que junto con el software en Labview realiza la automatización de todas las medidas necesarias. El sistema es capaz de realizar todas las operaciones necesarias entre los contactos para realizar la técnica de van der Pauw y obtener parámetros como movilidad electrónica, concentración de portadores y resistividades eléctricas en función de la temperatura. Estas medidas son fundamentales para estudiar el comportamiento electrónico de las muestras, con el objetivo de su aplicación en dispositivos electrónicos. Para comprobar el comportamiento del sistema se utilizó una muestra de óxido de indio y estaño (ITO). En estas pruebas se encontró que los tiempos de sincronización utilizados para las mediciones arrojan resultados con bajo nivel de ruido y que el montaje permite la realización de medidas didácticas para cursos de posgrado y también para investigaciones realizadas por estudiantes de posgrado.
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