Caracterização topográfica de implantes Ti- cp com superfície usinada e modificada por LASER
DOI:
https://doi.org/10.33448/rsd-v10i2.12217Palavras-chave:
Microscopia eletrônica de varredura; Implantes dentários; Topografia; Feixe de laser.Resumo
Este estudo caracterizou a topografia dos implantes osseointegrados (Ti-cp) com superfície usinada (MS), superfície do feixe de laser (LS) e superfície do feixe de laser seguida de deposição de silicato de sódio (SS) por meio MEV-EDX, medidas de rugosidade, transversal rugosidade, ângulo de contato, difração de raios X (DRX) e perfilometria óptica confocal a laser. O MEV de MS apresentou superfície lisa, contaminada com resíduos de usinagem, enquanto LS e SS rugosidades com padrão morfológico mais regular e homogêneo. O EDX mostrou picos de Ti para MS e Ti e oxigênio para LS e SS. Os valores médios de rugosidade de LS e SS foram estatisticamente maiores (p <0,05) do que MS. O ângulo de contato de LS e SS era de 0º. O DRX de MS apresentou apenas picos de Ti, enquanto LS e SS mostraram a presença de óxidos e nitretos e presença de silicato de sódio. O tratamento superficial realizado no LS e SS promoveu modificações importantes na topografia e nas propriedades físico-químicas.
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