Instrumentação para medidas de mobilidade eletrônica e concentração de portadores em amostras semicondutoras, pelo método de van der Pauw
DOI:
https://doi.org/10.33448/rsd-v10i6.15229Palavras-chave:
Método de Van der PauwResumo
Neste trabalho apresentamos os resultados da construção de um equipamento, de baixo custo, para medidas medida Hall, utilizando a técnica de van der Pauw. Para isso, foi desenvolvido um sistema composto por uma placa eletrônica controlada por uma placa DAQ que juntamente com um software em Labview realiza a automação de todas as medidas necessárias. O sistema é capas de realizar todas as operações necessárias entre os contatos para realizar a técnica de van der Pauw e obter parâmetros como mobilidade eletrônica, concentração de portadores e resistividades elétrica em função da temperatura. Tais medidas são essenciais para estudar o comportamento eletrônico de amostras, visando sua aplicação em dispositivos eletrônicos. Para verificar o comportamento do sistema, foi utilizado uma amostra de Indium tin oxide (ITO). Nesses testes verificou-se que o os tempos de sincronização utilizados para as medidas apresentam resultados com baixo ruído e que a montagem permite a realização de medidas didáticas para disciplinas de pós-graduação e também de pesquisas desenvolvidas pelos alunos de pós-graduação.
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